Newsletter

Otrzymuj jako pierwszy informacje o nowościach i promocjach!

Email:
Wyrażam zgodę na otrzymywanie oferty handlowej. Więcej
To pole jest wymagane
Akceptuję regulamin
To pole jest wymagane

Nasz newsletter wysyłany jest zwykle raz na miesiąc.

Wzorcowanie aparatury pomiarowej

Janusz Piotrowski , Krystyna Kostyrko

Wzorcowanie aparatury pomiarowej
Dostępny
Dostępne 10+ sztuk
Wysyłka w ciągu 3-4 dni roboczych.
€24,70

Zobacz dostępne formy płatności.
:

 
Product info / Cechy produktu
Rodzaj (nośnik) / Item type książka / book
Dział / Department Książki i czasopisma / Books and periodicals
Autor / Author Janusz Piotrowski , Krystyna Kostyrko
Tytuł / Title Wzorcowanie aparatury pomiarowej
Język / Language polski
Wydawca / Publisher Wydawnictwo Naukowe PWN
Rok wydania / Year published 2022
   
Rodzaj oprawy / Cover type Miękka
Wymiary / Size 17.0x24.0
Liczba stron / Pages 582
Ciężar / Weight 0,9800 kg
   
Wydano / Published on 10.10.2012
ISBN 9788301170516 (9788301170516)
EAN/UPC 9788301170516
Stan produktu / Condition nowy / new - sprzedajemy wyłącznie nowe nieużywane produkty
Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii!
Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono:
·aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar;
·podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej;
·zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych;
·aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności,
·wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów;
·badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania;
·aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium;
·sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania;
·laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności;
·przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.

W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych.

Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną.


Książka Wzorcowanie aparatury pomiarowej z wysyłką za granicę



Tagi produktowe